13、中会产生感应电流 ， 而这个电流反过来又作用 ， 闭合的次级线圈中会产生感应电流 ， 而这个电流反过来又 会影响初级线圈中的电压和电流 。
这种影响可以用次级线圈电路会影响初级线圈中的电压和电流 。
这种影响可以用次级线圈电路 阻抗通过互感阻抗通过互感M反映到初级线圈电路的等效阻抗反映到初级线圈电路的等效阻抗Ze来体现 。
来体现 。
Z0与与 Ze之和之和Z称为初级线圈的称为初级线圈的视在阻抗视在阻抗 。
线圈耦合互感电路 初级线圈次级线圈 电阻 电抗 检测线圈的视在阻抗是自阻抗与反射阻抗之和 。
检测线圈的视在阻抗是自阻抗与反射阻抗之和 。
涡流检测课件 应用视在阻抗的概念 ， 就可认为初级线圈电路中电流和电应用视在阻抗的概念 ，。

14、就可认为初级线圈电路中电流和电 压的变化是由于它的视在阻抗的变化引起的 ， 而据此就可以得压的变化是由于它的视在阻抗的变化引起的 ， 而据此就可以得 知次级线圈对初级线圈的效应 ， 从而可以推知初级线圈电路中知次级线圈对初级线圈的效应 ， 从而可以推知初级线圈电路中 阻抗的变化 。
阻抗的变化 。
通过监测初级线圈（检测线圈）视在阻抗的变化通过监测初级线圈（检测线圈）视在阻抗的变化 来推断被检对象（次级线圈）的阻抗是否发生改变 ， 来推断被检对象（次级线圈）的阻抗是否发生改变 ，进而判断其物理或工艺性能的变化及有无缺陷存在是进而判断其物理或工艺性能的变化及有无缺陷存在是 涡流检测的目的 。
涡流检测的目的 。
涡流检测课件。

15、)( 2 RrR 11110 jjLRXRZZ 若次级线圈开路 ， 即，（在涡流检测中 ， 这相当于检测线 圈尚未靠近被检对象） ， 则初级线 圈的空载阻抗 阻抗平面图： 0)( 2 RrR 21 2 2 2 1 1e1 )1 (Lj )( LL M K KR XXRRXRZ s esss ）（ 若次级线圈的， 则有 K耦合系数 在 从 的过程 中 ， 视在阻抗Z以视在电阻Rs为横坐标 ， 视在 电抗X为纵坐标的阻抗平面图上变化 ， 其轨迹 近似为一个半圆 ， 此即初级线圈的阻抗平面图 。
)( 2 RrR )0(0 2 从L X Rs 涡流检测课件 阻抗归一化 阻抗平面图虽然比较直观 ， 但半圆形阻抗平面图虽然比较直观 ，。

16、但半圆形 曲线在阻抗平面图上的位置与初级线圈自曲线在阻抗平面图上的位置与初级线圈自 身的阻抗以及两个线圈自身的电感和互感身的阻抗以及两个线圈自身的电感和互感 有关 。
另外 ， 半圆的半径不仅受到上述因素有关 。
另外 ， 半圆的半径不仅受到上述因素 的影响 ， 还随频率的不同而变化 。
这样 ， 的影响 ， 还随频率的不同而变化 。
这样 ，如果要对每个阻抗值不同的初级线圈的视在阻抗 ， 或对频率不同的初级线如果要对每个阻抗值不同的初级线圈的视在阻抗 ， 或对频率不同的初级线 圈的视在阻抗 ， 或对两线圈间耦合系数不同的初级线圈的视在阻抗作出阻圈的视在阻抗 ， 或对两线圈间耦合系数不同的初级线圈的视在阻抗作出阻 抗平面图时 ， 就会得到半径不同、 。

17、位置不一的许多半圆曲线 ， 抗平面图时 ， 就会得到半径不同、位置不一的许多半圆曲线 ，这不仅给这不仅给 作图带来不便 ， 而且也不便于对不同情况下的曲线进行比较 。
作图带来不便 ， 而且也不便于对不同情况下的曲线进行比较 。
为了消除初级线圈阻抗以及激励频率对曲线位置的影响 ， 为了消除初级线圈阻抗以及激励频率对曲线位置的影响 ，便于对不同情况便于对不同情况 下的曲线进行比较 ， 下的曲线进行比较 ，通常要对阻抗进行归一化处理 。
通常要对阻抗进行归一化处理 。
X Rs 涡流检测课件 归一化处理： 横坐标： 纵坐标： 这样就使纵轴与半圆直径 重合 ， 上端点为（0, 1) ， 下端 点为（0 ， 1-K2） 。
半圆仅取决 于耦合系数K 。
。

18、 归一化后的阻抗平面图消 除了初级线圈自身阻抗的变化 对 Z的影响 ， 在涡流检测中具 有通用性 。
归一化后的阻抗平面图 1 1 s L RR 1 L X r RR L 2 2 1 1 L RRs X X R 涡流检测课件 (6)、有效磁导率和特征频率 1） 有效磁导率eff 进行涡流检测时 ， 检测线圈视在阻抗的变化源于磁场的变 化 。
但分析磁场比较复杂 ， 为简化涡流检测中的阻抗分析问题 ，德国学者ForsterForster提出了提出了有效磁导率有效磁导率的概念的概念 。
用通以交变电流的 无限长圆筒形线圈内置一外径充满线圈的导电圆柱体来分析 。

稿源：(未知)

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标题：涡流|涡流检测课件( 三 )