按关键词阅读: 方法 介绍 试验 电子元器件 寿命 比较 加速
21、)B 為波氏 (Boltzman) 常數( 0.00008623 eV/K ) Z75b u2y#$k1k4VT 為某加速條件下的絕對溫度假設能找出某一性質 Q,和產品的壽命n之間的某種關係 , 則該產品的化學反應速率和產品之壽命乘積應該相等於Q , 即一Cr= Qn= Q/C* exp(E/BT)此處 Q 和 C, 都為常數將上式兩式取對數 , 可得知ln(n)= U+ E/BT;
U= ln(Q/C)T為絕對溫度 , 單位為 Kelven , 此即為Arrhenius力卩速圖紙的由來12 。
, ”在工業實際的應用上 , 是將各項資料點繪在特殊的設計的圖表上 , 可利用圖解的方式 , 很快且容易地求出縱座標是以ln(n) 為單 。
22、位 , 而橫座標單位為1/T , 將其各點繪置在特殊設計的圖紙之上 , 找出一條適合的直線 , 此種圖解法也可用在加速壽命測試之中 。
*MXD若於嚴苛應力下進行加速壽命試驗 , 可得2組數據 , 則Arrhenius 一模型成立時的加速率為AF=(G1/G2)=(n2/n1)= Exp(E/B)(1/T2 -1/T1)AF 為加速率即加速因子 (accelerated factor) qB1 x5$F所以只要知道兩種試驗的條件溫度 (T1 、T2 ) , 即可得知加速因子 A, 其中有關於活化能 E 是分子於發生化學反應作用中 , 所需具備的最小能量 , 單位為電子伏特 eV(Electron- V olts)。
當試驗的溫度差度差距範圍不大時 , 則活化能 E 值均可設定為常數 11, 其數值的大小 , 可利用實驗 , 將其失效數據繪入 Arrhenius 加速壽命圖紙中可求得 。
$ R8 S8N 。

稿源:(未知)
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标题:电子元器件|电子元器件加速寿命试验方法的比较介绍( 四 )