X射线荧光光谱仪的原理是什么?X射线荧光的物理原理:当材料暴露在短波长X光检查 , 或伽马射线 , 其组成原子可能发生电离 , 如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势 , 足以驱逐内层轨道的电子 , 然而这使原子的电子结构不稳定 , 在外轨道的电子会“回补”进入低轨道 , 以填补遗留下来的洞 。
在“回补”的过程会释出多余的能源 , 光子能量是相等两个轨道的能量差异的 。因此 , 物质放射出的辐射 , 这是原子的能量特性 。主要使用X射线束激发荧光辐射 , 第一次是在1928年由格洛克尔和施雷伯提出的 。
透射测定
光谱仪的透射率或它的效率可用辅助单色仪装置来测定 。在可见和近紫外实现这些测量没有任何困难 。测量通过第一个单色仪的光通量 , 紧接着测量通过两个单色仪的光通量 , 以这种方式来确定第二个单色仪的透射率 。
绝对测量需要知道单色仪的绝对透射率:对于相对测量 , 以各种波长处的相对单位可以测量透射率 。真空紫外线的这些测量有相当大的实验困难 , 因此通常使用辅助单色仪 。在各种入射角的情况下分别测量衍射光栅的效率 。在许多实验步骤中已成功地避免了校准上的困难 。
以上内容参考:百度百科-X射线荧光光谱仪
X荧光光谱仪都可以应用到哪些场景呢?实用性强不强呢X荧光光谱仪主要用途X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度 , 也可以获得各元素的含量信息 , 实用性强 。
近年来 , X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展 , 已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域 , 特别是在RoHS检测领域应用得多也广泛 。
大多数分析元素均可用其进行分析 , 可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品 , 分析范围为Be到U 。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点 。
什么是单波长X射线荧光光谱仪?通常的X射线荧光光谱仪分为能量色散X射线荧光光谱仪(ED XRF)和波长色散X射线荧光光谱仪(WD XRF) , 其以X射线管出射谱照射样品后产生的元素荧光射线是以能量色散型探测器直接探测(ED XRF)或是经分光晶体分光后探测器探测(WD XRF)为主要区别 。
单波长X射线荧光光谱仪是在X射线照射样品前进行了X射线光的单色化入射 , 主要依靠双曲面弯晶或者二次靶或者多层膜弯晶等技术 , 将X射线管出射谱中的单一能量衍射聚焦到样品一点 , 激发样品中元素荧光 , 这样极大降低了由于X射线管出射谱韧致辐射照射样品而产生的背景干扰 , 获得较佳的元素荧光信号峰背比 。严格说来 , 单波长X射线荧光光谱仪也分为单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪和单波长激发-波长色散X射线荧光光谱仪两类 。
由于单波长X射线荧光光谱仪获得较佳的元素分析性能(尤其在灵敏度方面) , 是当前X射线荧光领域研发的重点 。
x射线荧光光谱仪的工作原理x荧光光谱仪(xrf)由激发源(x射线管)和探测系统构成 。x射线管产生入射x射线(一次x射线) , 激发被测样品 。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次x射线 , 并且不同的元素所放射出的二次x射线具有特定的能量特性或波长特性 。探测系统测量这些放射出来的二次x射线的能量及数量 。然后 , 仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量 。
近年来 , x荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展 , 已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域 , 特别是在rohs检测领域应用得最多也最广泛 。
大多数分析元素均可用其进行分析 , 可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品 , 分析范围为be到u 。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点 。
优缺点:
优点:
a)
分析速度高 。测定用时与测定精密度有关 , 但一般都很短 , 2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素 。
b)
x射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关 , 而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系 。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象 。特别是在超软x射线范围内 , 这种效应更为显著 。波长变化用于化学位的测定
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